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M370掃描電化學工作站在掃描探針電化學領域中是一個全新的概念，以超高分辨率，非接觸式，空間分析電化學測量的特點而設計。

M370是一個模塊化的系統，可實現當今所有微區掃描探針電化學技術以及激光非接觸式微區形貌測試：

- 掃描電化學顯微鏡(SECM)
- 掃描振動電極測試(SVET)
- 掃描開爾文(Kelvin)探針測試(SKP)
- 微區電化學阻抗測試(LEIS)
- 掃描電解液微滴測試(SDS)
- 非觸式微區形貌測試(OSP)

M370利用納米級分辨率的快速精確，閉環x,y,z定位系統，并連同一個便捷的數據采集系統使用戶依據自己的實驗選擇配置。此系統設計靈活且人體工程學設計方便確保池體，樣品和探針的進入。

1.掃描電化學顯微鏡系統SECM370

SECM370是一款精密的掃描微電極系統，具有極高空間分辨率，在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。用于檢測，分析，或改變樣品在溶液中的表面和界面化學性質。

2.掃描卡爾文探針測試系統SKP370

掃描卡爾文探針系統SKP370，是一種無接觸，無破壞性的儀器，可以用于測量導電，涂膜，或半導體材料，與樣品探針之間的功函差。這種技術是用一個振動電容探針來工作的，通過調節一個外加的前級電壓測量樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。功函和表面狀況相關。SKP的獨特性質使在潮濕環境甚至是氣態環境中也可以測量，將不可能研究變為現實。

3.掃描振動電極測試系統SVP370

SVP370(SVET)掃描振動電極技術是一種非破壞性掃描，利用振動探針，測量電化學化學樣品表面產生的電特性。確保用戶可以實時測定和定量局部電化學反應以及腐蝕。

4.微區電化學阻抗測試系統LEIS370

微區電化學阻抗測試系統結合了電化學阻抗EIS技術和微區掃描技術，可以精確的測試局部微區的阻抗以及相應參數。

應用 * 薄膜阻抗復雜成像 * 池生長介質直接成像 * 光點化合反應特征化 * 電池 * 傳感器 * 金屬以及合金的鈍化 * 燃料池 * 腐蝕

5.電解液微滴掃描系統SDS370

電解液微滴系統可以限定液體與樣品的接觸面，從而對于液滴與樣品直接接觸面內的電化學和腐蝕反應進行測量。這樣就可以在空間分辨率上提供電化學活性，并使其限定在樣品特定量化表面。

應用 * 表征表面氧化物 * 涂層研究 * ISFET特征化 * 點腐蝕 * 流速對局部腐蝕的影響

6.非觸式微區形貌測試系統OSP370

使用非接觸式激光位移傳感器，OSP370模塊可快速準確地對非觸表面進行高精度測量。在不接觸樣品表面的情況下，它可以在10mm的高度范圍內提供小于1微米高度分辨率的3D表面特寫影像。

配件
各種可選配件，包括各種可選探針，可選池體(Environmental TriCellTM,μTriCellTM,和Shallow μTriCellTM)，長工作距離光學視頻顯微鏡(VCAM2)和3D表面陰影渲染軟件(3DlsoPlotTM)。能配置到一個特定的應用程序并升級，使M370獨特靈活，同時保持頂端的性能。